A szkennelő elektroszkóp-Raman spektroskopia együttműködése lehetővé teszi a minták mikrozónai in situ elemzését, és lehetővé teszi a minták szisztematikus elemzését. Mivel a szkennelési elektroszkópok és a Raman spektroskopiai adatok ugyanabból a pontból gyűjthetők, a minta felületi morfológiájának és az anyag molekuláris szerkezetének gyors és intuitív leírása lehetséges. A SEM-képek alapján a mintaválasztási vizsgálati terület gyorsabb és veszteségmentes anyagösszetételeinek pontosabb elemzése lehetséges, és pontos minta-összetételi adatokat kapunk.

Példa 1: A PO4/SO4 arányának meghatározása az alumínium-foszfát ásványi anyagokban mikron szinten, valamint az összetett vegyületek összetevőinek azonosítása, mint a melat és a kalciumfioszfát

2. példa: Raman spektroskopiai elemzés az uránil ásványok részecskék szintjének eléréséhez

3. példa: Egyrétegű és többrétegű területek azonosítása a készített grafén mintában