A Samsung Helios 5 DualBeam a Helios 5 termékcsalád nagy teljesítményű képalkotási és elemzési teljesítményével rendelkezik. Úgy tervezték, hogy megfeleljen az anyagtudományi kutatók és mérnökök igényeinek a széles körű FIB-SEM használatára, még a kihívást jelentő mintákra is.

A Helios 5 DualBeam újra meghatározza a magas felbontású képalkotás szabványait: az anyagkontraszt, a gyors, egyszerű és pontos kiváló minőségű mintakészítés az S/TEM képalkotáshoz és az atomszonda tomográfiához (APT), valamint a felületi és 3D jellemzéshez. A Helios DualBeam sorozat bevált teljesítményére építve a Helios 5 DualBeam-ot továbbfejlesztéssel optimalizálták, hogy a rendszer manuális vagy automatizált munkafolyamatokban működjön.

Félvezetőipar műszaki paraméterei:

Műszaki paraméterek az anyagtudományi iparban:

Könnyebb használni:

A Helios 5 egy könnyen használható DualBeam rendszer minden tapasztalatszintű felhasználó számára. Az üzemeltetők képzése hónapokról napokra csökkenthető, és a rendszer megtervezése segíti az összes üzemeltetőt a következetes, megismételhető eredmények elérésében a különböző alkalmazásokban.

A termelékenység növelése:

A Helios 5 és az AutoTEM 5 szoftverek fejlett automatizálási funkciói, megbízhatósága és stabilitása lehetővé teszi a felügyelet nélküli és akár éjszakai működést, ami jelentősen növeli a minta előkészítési áramlást.

Az idő és az eredmények javítása:

A Helios 5 DualBeam a finom képbeállítási funkció FLASH technológiáját vezeti be. A FLASH technológia segítségével egyszerű egérműveletet kell végeznie a felhasználói felületen, így a rendszer „valós idejben” eltávolítja a képet, középíti a lencsét és fókuszálja a képet. Az automatikus beállítás jelentősen javítja az áramlást, az adatminőséget és egyszerűsíti a kiváló minőségű képgyűjtést. A FLASH technológia átlagosan tízszer csökkenti a kép optimalizálásához szükséges időt.